Röntgenphotoelektronenspektroskopie
Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), auch bekannt als Elektronenspektroskopie für chemische Analysen (ESCA), ist eine oberflächensensitive Analysetechnik, die die kinetische Energie von Photoelektronen misst, die durch hochenergetische Röntgenstrahlen aus einem Material emittiert werden. Von Kai Siegbahn 1967 entwickelt, bestimmt XPS die elementare Zusammensetzung, chemische Oxidationszustände und chemische Bindungen innerhalb von ca. 10 Nanometern unter der Oberfläche. Sie ist in der Materialwissenschaft für die Oberflächencharakterisierung, Korrosionsstudien, Oxidanalyse und Grenzflächenchemie unverzichtbar.
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Quellen
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/de/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
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