Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine Rasterprobentechnik, die Oberflächen-Topographie und mechanische Eigenschaften im Nanometerbereich misst, indem sie Wechselwirkungen zwischen einer scharfen Cantileberspitze und einer Probenoberfläche überwacht. Erfunden von Gerd Binnig im Jahr 1986 als Erweiterung der Rastertunnelmikroskopie, benötigt AFM weder elektrische Leitfähigkeit noch Vakuum, was seine Anwendbarkeit auf praktisch jedes Material ermöglicht. Es liefert dreidimensionale topographische Karten mit sub-nanometrischer vertikaler Auflösung und lateraler Auflösung im Nanometerbereich, zusammen mit gleichzeitigen Messungen mechanischer, elektrischer und chemischer Eigenschaften.
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Quellen
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/de/materials-science/atomic-force-microscopy
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