XRD Rietveld-Verfeinerung
Die XRD Rietveld-Verfeinerung ist eine Methode zur Gewinnung detaillierter Kristallstrukturinformationen aus Pulverdiffraktionsdaten durch den Vergleich beobachteter und berechneter Diffraktionsmuster mittels Kleinste-Quadrate-Verfeinerung. Diese Technik, die 1969 von Hugo Rietveld entwickelt wurde, ermöglicht die Bestimmung von Atompositionen, Besetzungsdichten, thermischen Parametern und Phasenanteilen direkt aus Pulverdaten, ohne dass Einkristalle benötigt werden. Sie ist der Standardansatz in der Materialcharakterisierung für Strukturanalysen, Phasenidentifizierung und -quantifizierung.
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Quellen
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/de/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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