مطيافية الأشعة السينية لإلكترونات الضوئية
مطيافية الأشعة السينية لإلكترونات الضوئية (XPS)، والمعروفة أيضًا باسم مطيافية الإلكترونات للتحليل الكيميائي (ESCA)، هي تقنية تحليلية حساسة للسطح تقيس الطاقات الحركية للإلكترونات الضوئية المنبعثة من مادة بواسطة أشعة سينية عالية الطاقة. تم تطويرها بواسطة كاي سيغبان في عام 1967، وتحدد XPS التركيب العنصري، وحالات الأكسدة الكيميائية، والروابط الكيميائية ضمن حوالي 10 نانومتر من السطح. وهي لا غنى عنها في علم المواد لتوصيف السطح، ودراسات التآكل، وتحليل الأكاسيد، وكيمياء الواجهات.
اقرأ الطريقة كاملة
سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.
خريطة المناهج
محيط المناهج ذات الصلة — اختر عقدةً للاستكشاف.
المصادر
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
كيف تستشهد بهذه الصفحة
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ar/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
أيُّ منهج؟
ضع هذا المنهج إلى جانب أقرب نظائره واقرأهما جنباً إلى جنب — المكتبة تضع الكتب على الطاولة، والاختيار لك.
- مطيافية الأشعة السينية المشتتة للطاقةعلم المواد↔ قارن
- تحليل رامان الطيفي (Raman Deconvolution)علم المواد↔ قارن
- حيود الإلكترون للمناطق المختارةعلم المواد↔ قارن