Process / pipelineScanning probe microscopy

المجهرية القوة الذرية

المجهرية القوة الذرية (AFM) هي تقنية مسبار مسح تقيس تضاريس السطح على المستوى النانوي والخصائص الميكانيكية عن طريق مراقبة التفاعلات بين طرف ناتئ حاد وسطح العينة. اخترعها جيرد بينيج في عام 1986 كتوسع للمجهرية النفقي الماسح، ولا تتطلب المجهرية القوة الذرية موصلية كهربائية أو تشغيلًا في فراغ، مما يجعلها قابلة للتطبيق على أي مادة تقريبًا. توفر خرائط تضاريس ثلاثية الأبعاد بدقة عمودية دون النانومتر ودقة جانبية تقترب من النانومتر، بالإضافة إلى قياسات متزامنة للخصائص الميكانيكية والكهربائية والكيميائية.

افتح في MethodMindقريبًافيديوقريبًاDownload slides

اقرأ الطريقة كاملة

للأعضاء فقط

سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.

تسجيل الدخول

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

المصادر

  1. Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930
  2. Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link
  3. Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003

كيف تستشهد بهذه الصفحة

ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/ar/materials-science/atomic-force-microscopy

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

يُستشهد بها في

ScholarGateAtomic Force Microscopy (Atomic Force Microscopy (AFM)). استُرجع بتاريخ 2026-06-15 من https://scholargate.app/ar/materials-science/atomic-force-microscopy · مجموعة البيانات: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026