حيود الإلكترون للمناطق المختارة
حيود الإلكترون للمناطق المختارة (SAED) هو تقنية بلورية في المجهر الإلكتروني النافذ تحصل على أنماط حيود الإلكترون من مناطق بلورية بحجم الميكرومتر أو أقل من الميكرومتر. تم تطوير SAED من المبادئ الأساسية لسلوك موجات الإلكترون ودمجها في أجهزة المجهر الإلكتروني النافذ بحلول منتصف القرن العشرين، مما يتيح الملاحظة المباشرة للفضاء المقلوب، والتناظر البلوري، وهياكل العيوب بدقة مكانية لا يمكن تحقيقها بواسطة حيود الأشعة السينية. وهي ضرورية لدراسة البنية البلورية المحلية، وتحديد الطور، وتوصيف المواد النانوية.
اقرأ الطريقة كاملة
سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
المصادر
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
كيف تستشهد بهذه الصفحة
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/ar/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- المجهرية القوة الذريةعلم المواد↔ compare
- مطيافية الأشعة السينية المشتتة للطاقةعلم المواد↔ compare
- تحليل ريتفيلد لبيانات حيود الأشعة السينية (XRD)علم المواد↔ compare