تحليل ريتفيلد لبيانات حيود الأشعة السينية (XRD)
تحليل ريتفيلد لبيانات حيود الأشعة السينية (XRD) هو طريقة لاستخلاص معلومات مفصلة عن التركيب البلوري من بيانات حيود المسحوق، وذلك بمقارنة أنماط الحيود المرصودة والمحسوبة من خلال تحليل المربعات الصغرى. طوّر هذه التقنية هوغو ريتفيلد عام 1969، وهي تمكّن من تحديد المواقع الذرية، وشغل المواقع، والمعاملات الحرارية، والكسور الطورية مباشرةً من بيانات المسحوق دون الحاجة إلى بلورات مفردة. إنها النهج القياسي في توصيف المواد للتحليل الهيكلي، وتحديد الأطوار، والتحديد الكمي.
اقرأ الطريقة كاملة
سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.
خريطة المناهج
محيط المناهج ذات الصلة — اختر عقدةً للاستكشاف.
المصادر
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
كيف تستشهد بهذه الصفحة
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/ar/materials-science/xrd-rietveld-refinement
أيُّ منهج؟
ضع هذا المنهج إلى جانب أقرب نظائره واقرأهما جنباً إلى جنب — المكتبة تضع الكتب على الطاولة، والاختيار لك.
- CALPHADعلم المواد↔ قارن
- حيود الإلكترون للمناطق المختارةعلم المواد↔ قارن
- مطيافية الأشعة السينية لإلكترونات الضوئيةعلم المواد↔ قارن