EXAFS
التركيب الدقيق الممتد للامتصاص بالأشعة السينية (EXAFS) هو تقنية مطيافية للأشعة السينية تعتمد على السنكروترون تقيس البنية الهندسية والإلكترونية المحلية حول ذرة معينة في أي مادة، بلورية أو غير متبلورة. اكتشفها سايرز وستيرن وليتل في عام 1971، وتكشف EXAFS عن المسافات بين الذرات وأعداد التناسق والاضطراب في البيئة الذرية عن طريق تحليل التذبذبات في طيف امتصاص الأشعة السينية فوق حافة الامتصاص.
اقرأ الطريقة كاملة
سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
المصادر
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
كيف تستشهد بهذه الصفحة
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/ar/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- مطيافية الأشعة تحت الحمراء ذات الانعكاس الكلي الموهن (ATR-FTIR)علم الطيف↔ compare
- تشتت الأشعة السينية بزاوية صغيرة (SAXS)علم الطيف↔ compare
- زانيسعلم الطيف↔ compare