Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (РФЕС), також відома як електронна спектроскопія для хімічного аналізу (ЕСХА), — це поверхнево-чутлива аналітична техніка, яка вимірює кінетичні енергії фотоелектронів, викинутих з матеріалу високоенергетичними рентгенівськими променями. Розроблена Каєм Сігбаном у 1967 році, РФЕС визначає елементний склад, хімічні ступені окиснення та хімічні зв'язки в межах приблизно 10 нанометрів від поверхні. Вона є незамінною в матеріалознавстві для характеристики поверхні, досліджень корозії, аналізу оксидів та хімії інтерфейсів.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Карта методів
Околиця споріднених методів — виберіть вузол, щоб дослідити.
Джерела
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/uk/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Який метод?
Поставте цей метод поруч із його найближчими спорідненими й читайте їх пліч-о-пліч — бібліотека викладає книги на стіл; вибір за вами.
- Рентгенівська спектроскопія з енергетичною дисперсієюМатеріалознавство↔ порівняти
- Раманівська деконволюціяМатеріалознавство↔ порівняти
- Дифракція електронів у вибраній ділянціМатеріалознавство↔ порівняти
Згадується в
Similar methods
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →