Дифракція електронів у вибраній ділянці

Дифракція електронів у вибраній ділянці (SAED) — це кристалографічний метод у трансмісійній електронній мікроскопії, який отримує дифракційні картини від кристалічних ділянок розміром від мікрометра до субмікрометра. Розроблена на основі фундаментальних принципів поведінки електронної хвилі та інтегрована в прилади ТЕМ до середини ХХ століття, SAED дозволяє безпосередньо спостерігати зворотний простір, симетрію кристала та дефектні структури з просторовою роздільною здатністю, недосяжною для рентгенівської дифракції. Вона є важливою для вивчення локальної кристалічної структури, ідентифікації фаз та характеристики наноматеріалів.