EXAFS
Розширена тонка структура поглинання рентгенівських променів (EXAFS) — це синхротронний метод рентгенівської спектроскопії, який вимірює локальну геометричну та електронну структуру навколо певного атома в будь-якому матеріалі, кристалічному чи аморфному. Відкритий Сейерсом, Стерном і Лайтлом у 1971 році, EXAFS виявляє міжатомні відстані, координаційні числа та розупорядкування в атомному середовищі шляхом аналізу осциляцій у спектрі поглинання рентгенівських променів вище краю поглинання.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Джерела
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Згадується в
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →