Атомно-силова мікроскопія
Атомно-силова мікроскопія (АСМ) — це сканувальна зондова техніка, яка вимірює топографію поверхні та механічні властивості в наномасштабі шляхом моніторингу взаємодій між гострим кантилеверним зондом і поверхнею зразка. Винайдена Гердом Біннігом у 1986 році як розширення сканувальної тунельної мікроскопії, АСМ не вимагає ні електричної провідності, ні вакуумної роботи, що робить її застосовною практично до будь-якого матеріалу. Вона надає тривимірні топографічні карти з субнанометровою вертикальною роздільною здатністю та латеральною роздільною здатністю, що наближається до нанометрів, разом з одночасними вимірюваннями механічних, електричних та хімічних властивостей.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Джерела
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/uk/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Рентгенівська спектроскопія з енергетичною дисперсієюМатеріалознавство↔ compare
- НаноіндентуванняМатеріалознавство↔ compare
- Дифракція електронів у вибраній ділянціМатеріалознавство↔ compare
Згадується в
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →