ScholarGate
Асистент
Process / pipelineX-ray crystallography

Рентгенодифракційне Рітвельдівське уточнення

Рентгенодифракційне Рітвельдівське уточнення — це метод вилучення детальної інформації про кристалічну структуру з даних порошкової дифракції шляхом порівняння спостережуваних та розрахованих дифракційних картин за допомогою методу найменших квадратів. Розроблена Гуго Рітвельдом у 1969 році, ця техніка дозволяє визначати положення атомів, заселеність позицій, теплові параметри та частки фаз безпосередньо з порошкових даних без необхідності використання монокристалів. Це стандартний підхід у матеріалознавстві для структурного аналізу, ідентифікації фаз та кількісного визначення.

Відкрити у MethodMindНезабаромВідеоНезабаромЗавантажити слайди

Читати метод повністю

Лише для учасників

Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.

Увійти

Карта методів

Околиця споріднених методів — виберіть вузол, щоб дослідити.

Джерела

  1. Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558
  2. Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link
  3. Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I

Як цитувати цю сторінку

ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/materials-science/xrd-rietveld-refinement

Який метод?

Поставте цей метод поруч із його найближчими спорідненими й читайте їх пліч-о-пліч — бібліотека викладає книги на стіл; вибір за вами.

Порівняти поруч

Згадується в

ScholarGateXRD Rietveld Refinement (X-ray Diffraction Rietveld Refinement). Отримано 2026-06-15 з https://scholargate.app/uk/materials-science/xrd-rietveld-refinement · Набір даних: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026