Im-Pesaran-Shin Test
The Im-Pesaran-Shin (IPS) test, introduced by Im, Pesaran, and Shin in 2003, is a panel unit-root test designed for heterogeneous panels where the autoregressive coefficient is allowed to differ across cross-sectional units. It averages individual Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistics and constructs a standardized statistic with a standard normal limiting distribution, making it one of the most widely applied first-generation panel unit-root tests in applied econometrics.
Kaynak kayıt
Alıntılar, yöntemin kaynak kaydından harfi harfine kopyalanmıştır. Bunlardan herhangi bir düzeyde doğrulama çıkarımı yapılmamıştır.
Derlenmiş iddialar
Her biri kendi değerlendirmesiyle birlikte kanıt defterine kaydedilmiş iddialar.
Bu görünüm, defterde hiç iddia olmadığında bir iddia değerlendirmesi icat etmez.
İlgili yöntemler
Yöntem grafiğinden oluşturulmuştur ve makine tarafından önerilen ilişkiler olarak gösterilir — herhangi bir kanıt iddiası çıkarımı yapılmamıştır.