Atomic Force Microscopy
Atomic Force Microscopy (AFM) เป็นเทคนิคการสแกนแบบโพรบ (scanning probe technique) ที่ใช้วัดลักษณะทางกายภาพของพื้นผิวในระดับนาโนเมตร (nanoscale surface topography) และคุณสมบัติทางกล (mechanical properties) โดยการติดตามปฏิสัมพันธ์ระหว่างปลายแหลมของคานยืดหยุ่น (cantilever tip) กับพื้นผิวของตัวอย่าง AFM ถูกประดิษฐ์ขึ้นโดย Gerd Binnig ในปี 1986 โดยเป็นการต่อยอดจากเทคนิค scanning tunneling microscopy ทำให้ AFM ไม่จำเป็นต้องอาศัยการนำไฟฟ้าหรือการทำงานในสภาวะสุญญากาศ ซึ่งทำให้สามารถประยุกต์ใช้กับวัสดุแทบทุกชนิดได้ เทคนิคนี้ให้แผนที่ลักษณะทางกายภาพสามมิติ (three-dimensional topographic maps) ที่มีความละเอียดในแนวตั้งระดับต่ำกว่านาโนเมตร (sub-nanometer vertical resolution) และความละเอียดในแนวราบ (lateral resolution) ใกล้เคียงระดับนาโนเมตร พร้อมกับการวัดคุณสมบัติทางกล ไฟฟ้า และเคมีไปพร้อมกัน
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/th/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- การวิเคราะห์สเปกตรัมรังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงานวัสดุศาสตร์↔ compare
- Nanoindentationวัสดุศาสตร์↔ compare
- การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนในพื้นที่เลือกวัสดุศาสตร์↔ compare