การทดสอบ CIPS — การทดสอบรากหน่วยของหน่วยแผงที่เสริมด้วยภาคตัดขวาง
การทดสอบ CIPS ซึ่ง Pesaran (2007) ได้นำเสนอ เป็นการทดสอบรากหน่วยของแผงรุ่นที่สองที่ออกแบบมาสำหรับแผงที่หน่วยภาคตัดขวางมีปัจจัยร่วมที่มองไม่เห็นซึ่งก่อให้เกิดการพึ่งพาภาคตัดขวาง โดยการเสริมการถดถอย ADF ของแต่ละหน่วยด้วยค่าเฉลี่ยภาคตัดขวางและค่าล่าช้าของการถดถอยเหล่านั้น การทดสอบ CIPS จะพิจารณาถึงการพึ่งพานี้และให้การอนุมานที่เชื่อถือได้เมื่อการทดสอบรุ่นแรก เช่น การทดสอบ IPS ดั้งเดิม ล้มเหลว การทดสอบนี้มีการนำไปใช้อย่างกว้างขวางในแผงเศรษฐศาสตร์มหภาคและการเงินที่การกระตุ้นส่งผลกระทบต่อประเทศหรือภูมิภาคต่างๆ
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/th/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- การทดสอบ Cross-sectionally Augmented Dickey-Fuller (CADF)เศรษฐมิติ↔ compare
- การทดสอบรากหน่วยร่วมของข้อมูลแบบพาเนล Im-Pesaran-Shin (IPS)เศรษฐมิติ↔ compare
- PANIC Test: การวิเคราะห์รากหน่วยของอนุกรมเวลาแบบพาเนลโดยมีการแยกตัวประกอบร่วมเศรษฐมิติ↔ compare