การทดสอบรากหน่วยร่วมของข้อมูลแบบพาเนล Im-Pesaran-Shin (IPS)
การทดสอบ IPS ซึ่งนำเสนอโดย Im, Pesaran และ Shin ในปี 2003 เป็นการทดสอบรากหน่วยร่วมของข้อมูลแบบพาเนลที่ออกแบบมาสำหรับพาเนลที่มีความแปรปรวนต่างกัน (heterogeneous panels) โดยที่สัมประสิทธิ์การถดถอยอัตโนมัติ (autoregressive coefficient) ได้รับอนุญาตให้แตกต่างกันไปในแต่ละหน่วยภาคตัดขวาง (cross-sectional units) การทดสอบนี้จะหาค่าเฉลี่ยของสถิติทดสอบ t ของ Augmented Dickey-Fuller (ADF) ของแต่ละหน่วย และสร้างสถิติทดสอบมาตรฐานที่มีการแจกแจงลิมิตเป็นแบบปกติมาตรฐาน (standard normal limiting distribution) ทำให้เป็นการทดสอบรากหน่วยร่วมของข้อมูลแบบพาเนลรุ่นแรกที่ใช้กันอย่างแพร่หลายที่สุดในการวิเคราะห์เศรษฐมิติเชิงประยุกต์
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/th/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- การทดสอบรากหน่วยของข้อมูลแบบพาเนลของ Breitungเศรษฐมิติ↔ compare
- การทดสอบ CIPSเศรษฐมิติ↔ compare
- การทดสอบรากหน่วยร่วมของแผงข้อมูลแบบ Levin-Lin-Chu (LLC)เศรษฐมิติ↔ compare