Upimaji wa Topografia ya Kina na Sifa za Mitambo kwa kutumia Microscopy ya Nguvu za Atomiki

Microscopy ya Nguvu za Atomiki (AFM) ni mbinu ya kuchanganua kwa kutumia uchunguzi ambayo hupima topografia ya uso wa nanoscale na sifa za mitambo kwa kufuatilia mwingiliano kati ya ncha ya kisu cha cantilever na uso wa sampuli. Iliyobuniwa na Gerd Binnig mwaka 1986 kama upanuzi wa microscopy ya uchunguzi wa skanning, AFM haihitaji upitishaji umeme wala operesheni ya utupu, ikifanya iweze kutumika kwa karibu nyenzo yoyote. Inatoa ramani za topografia za pande tatu zenye azimio la wima la chini ya nanometer na azimio la mlalo linalokaribia nanometer, pamoja na vipimo sanjari vya sifa za mitambo, umeme, na kemikali.