Im-Pesaran-Shin (IPS) panelenhetstrotstest
Im-Pesaran-Shin (IPS) testet, introducerat av Im, Pesaran och Shin år 2003, är ett panelenhetstrotstest utformat för heterogena paneler där den autoregressiva koefficienten tillåts variera mellan tvärsnittsenheterna. Det medelvärdesbildar individuella Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistikor och konstruerar en standardiserad statistika med en standardnormal gränsfördelning, vilket gör det till ett av de mest använda första generationens panelenhetstrotstester inom tillämpad ekonometri.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitung's panelenhetstestEkonometri↔ compare
- CIPS-testetEkonometri↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) panelenhetrotstestEkonometri↔ compare
Refereras av
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →