EXAFS
Kada foton rendgenskog zračenja apsorbuje jezgrani elektron atoma, izlazni talas fotoelektrona se rasejava od susednih atoma. Ovi rasejani talasi interferiraju sa izlaznim talasom, stvarajući oscilacije (talasiće) u koeficijentu apsorpcije rendgenskih zraka iznad apsorpcione ivice. Frekvencija i amplituda ovih oscilacija zavise od rastojanja, koordinacionih brojeva i tipova susednih atoma. Analizom oscilacija, ekstrahuje se radijalna funkcija distribucije koja pokazuje koliko atoma je na svakom rastojanju od centralnog atoma.
Pročitajte celu metodu
Prijavite se besplatnim nalogom da biste pročitali ovaj odeljak.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Izvori
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Kako citirati ovu stranicu
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/sr/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Citirana u
Uočili ste grešku na ovoj stranici? Prijavite je ili predložite ispravku →