Spectroscopia de fotoelectroni cu raze X
Spectroscopia de fotoelectroni cu raze X (XPS), cunoscută și sub denumirea de Spectroscopie Electronică pentru Analiză Chimică (ESCA), este o tehnică analitică sensibilă la suprafață care măsoară energiile cinetice ale fotoelectronilor ejectați dintr-un material de către raze X de înaltă energie. Dezvoltată de Kai Siegbahn în 1967, XPS determină compoziția elementară, stările de oxidare chimică și legăturile chimice pe o adâncime de aproximativ 10 nanometri de la suprafață. Este indispensabilă în știința materialelor pentru caracterizarea suprafețelor, studiile de coroziune, analiza oxizilor și chimia interfețelor.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Harta metodelor
Vecinătatea metodelor înrudite — selectați un nod pentru a explora.
Surse
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ro/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Ce metodă?
Așezați această metodă lângă cele mai apropiate rude și citiți-le alăturat — biblioteca pune cărțile pe masă; alegerea vă aparține.
- Spectroscopie de raze X cu dispersie de energieȘtiința materialelor↔ compară
- Deconvoluția RamanȘtiința materialelor↔ compară
- Difracția electronică cu zonă selectatăȘtiința materialelor↔ compară
Citat de
Similar methods
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →