EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) este o tehnică de spectroscopie cu raze X, bazată pe sincrotron, care măsoară structura geometrică și electronică locală în jurul unui atom specific din orice material, cristalin sau amorf. Descoperit de Sayers, Stern și Lytle în 1971, EXAFS relevă distanțele interatomice, numerele de coordinație și dezordinea din mediul atomic prin analiza oscilațiilor din spectrul de absorbție a razelor X deasupra unei margini de absorbție.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/ro/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →