Microscopie a forță atomică
Microscopia cu forță atomică (AFM) este o tehnică de sondă scanată care măsoară topografia suprafeței la scară nanometrică și proprietățile mecanice prin monitorizarea interacțiunilor dintre un vârf ascuțit de pe un consolă și suprafața probei. Inventată de Gerd Binnig în 1986 ca o extensie a microscopiei tunelării scanate, AFM nu necesită conductivitate electrică sau operare în vid, făcându-l aplicabil practic oricărui material. Oferă hărți topografice tridimensionale cu rezoluție verticală sub-nanometrică și rezoluție laterală apropiată de nanometri, împreună cu măsurători simultane ale proprietăților mecanice, electrice și chimice.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/ro/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Spectroscopie de raze X cu dispersie de energieȘtiința materialelor↔ compare
- NanoindentațieȘtiința materialelor↔ compare
- Difracția electronică cu zonă selectatăȘtiința materialelor↔ compare
Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →