Difracția electronică cu zonă selectată
Difracția electronică cu zonă selectată (SAED) este o tehnică cristalografică în microscopia electronică de transmisie care obține modele de difracție electronică din regiuni cristaline de dimensiuni micrometrice sau sub-micrometrice. Dezvoltată pe baza principiilor fundamentale ale comportamentului undelor electronice și integrată în instrumentele TEM la mijlocul secolului al XX-lea, SAED permite observarea directă a spațiului reciproc, a simetriei cristalelor și a structurilor de defecte, cu o rezoluție spațială neatinsă de difracția cu raze X. Este esențială pentru studiul structurii cristaline locale, identificarea fazelor și caracterizarea materialelor la scară nanometrică.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/ro/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Microscopie a forță atomicăȘtiința materialelor↔ compare
- Spectroscopie de raze X cu dispersie de energieȘtiința materialelor↔ compare
- Rafinarea Rietveld prin DRXȘtiința materialelor↔ compare
Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →