Teste CIPS — Teste de Raiz Unitária em Painel IPS Aumentado por Seção Transversal

O teste CIPS, introduzido por Pesaran (2007), é um teste de raiz unitária em painel de segunda geração, projetado para painéis nos quais as unidades de seção transversal compartilham fatores comuns não observados que induzem dependência de seção transversal. Ao aumentar cada regressão ADF individual com médias de seção transversal e seus defasagens, o teste CIPS considera essa dependência e produz inferência confiável onde testes de primeira geração, como o teste IPS original, falham. É amplamente aplicado em painéis macroeconômicos e financeiros onde choques se propagam entre países ou regiões.