Monte Carlo variasjonsanalyse av prosesser
Monte Carlo variasjonsanalyse av prosesser kvantifiserer effekten av produksjonsusikkerheter på kretsytelse ved bruk av statistisk sampling. Etter hvert som halvlederteknologi skalerer, skaper prosessvariasjoner (gate-lengde, oksydtykkelse, dopantfluktuasjoner) betydelige usikkerheter i forsinkelse, strømforbruk og lekkasje. Monte Carlo-metoder sampler tilfeldig i variasjonsrommet, noe som muliggjør statistisk karakterisering av utbytte, timingmarginer og pålitelighet. Essensielt for moderne teknologinoder.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/no/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Automatisk generering av testmønstreElektroteknikk↔ compare
- LogikksynteseElektroteknikk↔ compare
- Statisk tidsanalyseElektroteknikk↔ compare
Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →