Automatisk generering av testmønstre
Automatisk generering av testmønstre (ATPG) er den automatiserte opprettelsen av testvektorer som oppdager produksjonsfeil i digitale kretser. ATPG, pionert av Roth i 1966, finner systematisk innganger som gjør «stuck-at»-feil observerbare på utganger, noe som muliggjør omfattende feildeteksjon. ATPG er kritisk for halvlederproduksjon: høy testdekning sikrer at kun gode brikker sendes ut og identifiserer problemer i produksjonsprosessen.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/no/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- LogikksynteseElektroteknikk↔ compare
- Monte Carlo variasjonsanalyse av prosesserElektroteknikk↔ compare
- Statisk tidsanalyseElektroteknikk↔ compare
Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →