Röntgenfotoelektronenspectroscopie
Röntgenfotoelektronenspectroscopie (XPS), ook bekend als Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is een oppervlaktegevoelige analytische techniek die de kinetische energieën meet van foto-elektronen die uit een materiaal worden gestoten door hoogenergetische röntgenstralen. Ontwikkeld door Kai Siegbahn in 1967, bepaalt XPS de elementaire samenstelling, chemische oxidatietoestanden en chemische bindingen binnen ~10 nanometer van een oppervlak. Het is onmisbaar in de materiaalkunde voor oppervlaktekarakterisering, corrosieonderzoek, oxidéanalyse en interfacechemie.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Methodenkaart
De omgeving van verwante methoden — selecteer een knooppunt om te verkennen.
Bronnen
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/nl/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Welke methode?
Plaats deze methode naast haar naaste verwanten en lees ze naast elkaar — de bibliotheek legt de boeken op tafel; de keuze is aan u.
- Energiedispersieve röntgen spektroscopieMateriaalkunde↔ vergelijken
- Raman DeconvolutieMateriaalkunde↔ vergelijken
- Selected Area Electron DiffractionMateriaalkunde↔ vergelijken
Geciteerd door
Similar methods
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →