Atoomkrachtmicroscopie
Atoomkrachtmicroscopie (AFM) is een scannende probesonde-techniek die oppervlaktestopografie en mechanische eigenschappen op nanoschaal meet door interacties tussen een scherpe cantileverpunt en een sampleoppervlak te monitoren. Uitgevonden door Gerd Binnig in 1986 als uitbreiding van de scanning tunneling microscopie, vereist AFM noch elektrische geleidbaarheid noch vacuümwerking, waardoor het toepasbaar is op vrijwel elk materiaal. Het levert driedimensionale topografische kaarten met een verticale resolutie van sub-nanometer en een laterale resolutie die nanometers benadert, samen met gelijktijdige metingen van mechanische, elektrische en chemische eigenschappen.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/nl/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Energiedispersieve röntgen spektroscopieMateriaalkunde↔ compare
- Nano-indentatieMateriaalkunde↔ compare
- Selected Area Electron DiffractionMateriaalkunde↔ compare
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →