XRD Rietveld Verfijning
XRD Rietveld Verfijning is een methode om gedetailleerde kristalstructuurinformatie uit poederdiffractiedata te extraheren door waargenomen en berekende diffractiepatronen te vergelijken via kleinste-kwadratenverfijning. Deze techniek, ontwikkeld door Hugo Rietveld in 1969, maakt het mogelijk om atomaire posities, bezettingen, thermische parameters en fasfracties direct uit poederdata te bepalen zonder dat enkristallen nodig zijn. Het is de standaardbenadering in materiaal karakterisering voor structurele analyse, fase-identificatie en kwantificering.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Methodenkaart
De omgeving van verwante methoden — selecteer een knooppunt om te verkennen.
Bronnen
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Welke methode?
Plaats deze methode naast haar naaste verwanten en lees ze naast elkaar — de bibliotheek legt de boeken op tafel; de keuze is aan u.
- CALPHADMateriaalkunde↔ vergelijken
- Selected Area Electron DiffractionMateriaalkunde↔ vergelijken
- RöntgenfotoelektronenspectroscopieMateriaalkunde↔ vergelijken
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →