Selected Area Electron Diffraction
Selected Area Electron Diffraction (SAED) is een kristallografische techniek in de transmissie-elektronenmicroscopie die elektronen diffractiepatronen verkrijgt van kristallijne regio's van micron- of submicron-grootte. Ontwikkeld vanuit fundamentele principes van elektronengolfgedrag en geïntegreerd in TEM-instrumenten tegen het midden van de 20e eeuw, maakt SAED directe observatie van de reciproque ruimte, kristalsymmetrie en defectstructuren mogelijk met een ruimtelijke resolutie die onbereikbaar is voor röntgendiffractie. Het is essentieel voor het bestuderen van lokale kristalstructuren, fase-identificatie en het karakteriseren van nanomaterialen.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/nl/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- AtoomkrachtmicroscopieMateriaalkunde↔ compare
- Energiedispersieve röntgen spektroscopieMateriaalkunde↔ compare
- XRD Rietveld VerfijningMateriaalkunde↔ compare
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →