EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is een op synchrotron gebaseerde röntgenspectroscopietechniek die de lokale geometrische en elektronische structuur rond een specifiek atoom in elk materiaal, kristallijn of amorf, meet. EXAFS, ontdekt door Sayers, Stern en Lytle in 1971, onthult interatomaire afstanden, coördinatiegetallen en wanorde in de atoomomgeving door oscillaties in het röntgenabsorptiespectrum boven een absorptie-rand te analyseren.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →