Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test
De Im-Pesaran-Shin (IPS) test, geïntroduceerd door Im, Pesaran en Shin in 2003, is een panel unit-root test ontworpen voor heterogene panelen waarbij de autoregressieve coëfficiënt mag verschillen tussen de cross-sectionele eenheden. Het middelt individuele Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistieken en construeert een gestandaardiseerde statistiek met een standaard normale limietverdeling, wat het een van de meest toegepaste eerste-generatie panel unit-root tests in de toegepaste econometrie maakt.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitung Panel Unit-Root TestEconometrie↔ compare
- CIPS TestEconometrie↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) Panel Unit-Root TestEconometrie↔ compare
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →