ScholarGate
Asistents
Process / pipelineTechnology adoption

Tehnostresa skala

Tehnostresa skala, ko izstrādājuši Tarafdars, Tu, Ragu-Nathan un kolēģi (2007), mēra stresu un negatīvās emocijas, ko darbinieki piedzīvo informācijas tehnoloģiju lietošanas dēļ darbavietā. Skala aptver piecus tehnostresa dimensiju aspektus: tehnoloģiskā pārslodze (pārmērīga darba slodze no tehnoloģiju prasībām), tehnoloģiskā invāzija (neiespējamība atslēgties no darba), tehnoloģiskā sarežģītība (grūtības apgūt jaunas tehnoloģijas), tehnoloģiskā nedrošība (bailes zaudēt darbu automatizācijas dēļ) un tehnoloģiskā nenoteiktība (pastāvīgas tehnoloģiju izmaiņas). Tehnostress ir saistīts ar samazinātu produktivitāti, palielinātu izdegšanu un darba neapmierinātību.

Atvērt MethodMindDrīzumāApply, compare, get guidance
Tools & resources
Lejupielādēt slaidus
Learn & explore
VideoDrīzumā

Lasīt pilno metodes aprakstu

Tikai dalībniekiem

Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.

Pieteikties

Metožu karte

Saistīto metožu apkaime — atlasiet mezglu, lai izpētītu.

Avoti

  1. Tarafdar, M., Tu, Q., Ragu-Nathan, B. S., & Ragu-Nathan, T. S. (2007). The impact of technostress on role stress and productivity. Journal of Management Information Systems, 24(1), 301-328. DOI: 10.2753/MIS0742-1222240109
  2. Ragu-Nathan, T. S., Tarafdar, M., Ragu-Nathan, B. S., & Tu, Q. (2008). The consequences of technostress for end users in organizations: Conceptual development and validation. Information Systems Research, 19(4), 417-433. DOI: 10.1287/isre.1070.0165

Kā citēt šo lapu

ScholarGate. (2026, June 3). Technostress Scale. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/information-systems/technostress-scale

Kura metode?

Novietojiet šo metodi blakus tās tuvākajām radniecīgajām metodēm un lasiet tās līdzās — bibliotēka noliek grāmatas uz galda; izvēle ir jūsu.

Salīdzināt blakus

Uz to atsaucas

ScholarGateTechnostress Scale (Technostress Scale). Izgūts 2026-06-16 no https://scholargate.app/lv/information-systems/technostress-scale · Datu kopa: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026