CIPS tests — Krustenmodificēts IPS panelī vienības saknes tests
CIPS tests, ko ieviesa Pesaran (2007), ir otrās paaudzes panelī vienības saknes tests, kas paredzēts paneļiem, kuros šķērsgriezuma vienības dala nenoskaidrotus kopējus faktorus, kas izraisa šķērsgriezuma atkarību. Papildinot katru individuālo ADF regresiju ar šķērsgriezuma vidējiem un to kavējumiem, CIPS tests ņem vērā šo atkarību un nodrošina uzticamu secinājumu gadījumos, kad pirmās paaudzes testi, piemēram, sākotnējais IPS tests, nedarbojas. Tas tiek plaši izmantots makroekonomiskos un finanšu paneļos, kur šoki izplatās starp valstīm vai reģioniem.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Avoti
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Krusteniskās papildinātā Dikija-Fullera (CADF) pārbaudeEkonometrija↔ compare
- Im-Pesaran-Shin (IPS) paneļu vienības saknes testsEkonometrija↔ compare
- PANIC tests: Vienlaides vienību saknes analīze ar kopējo faktoru sadalījumuEkonometrija↔ compare
Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →