Im-Pesaran-Shin (IPS) paneļu vienības saknes tests
Im, Pesaran un Shin 2003. gadā ieviestais IPS tests ir paneļu vienības saknes tests, kas paredzēts heterogēniem paneļiem, kur autoregresīvais koeficients var atšķirties dažādās šķērsgriezuma vienībās. Tas vidēji aprēķina individuālos paplašinātā Dikija-Fullera (ADF) t-statistiku un konstruē standartizētu statistiku ar standarta normālu robežsadalījumu, padarot to par vienu no visplašāk lietotajiem pirmās paaudzes paneļu vienības saknes testiem lietišķajā ekonometrijā.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Avoti
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitunga vienības saknes testsEkonometrija↔ compare
- CIPS testsEkonometrija↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) paneļa vienības saknes testsEkonometrija↔ compare
Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →