Process / pipelineDigital circuit testing
자동 테스트 패턴 생성
자동 테스트 패턴 생성(ATPG)은 디지털 회로의 제조 결함을 탐지하는 테스트 벡터의 자동 생성입니다. 1966년 Roth에 의해 개척된 ATPG는 스턱-앳 결함을 출력에서 관찰 가능하게 만드는 입력을 체계적으로 찾아 포괄적인 결함 탐지를 가능하게 합니다. ATPG는 반도체 제조에 매우 중요합니다. 높은 테스트 커버리지를 가능하게 함으로써 양품 칩만 출하하고 제조 공정 문제를 식별합니다.
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출처
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
이 페이지 인용 방법
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ko/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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