SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) è un metodo non parametrico per rilevare il differential item functioning (DIF) e il differential test functioning (DTF) sviluppato da Shealy e Stout (1993). A differenza degli approcci parametrici, SIBTEST non assume un particolare modello di risposta all'item e testa direttamente se i gruppi differiscono nella loro probabilità di risposte corrette a parità di livello di abilità generale.
Leggi il metodo completo
Accedi con un account gratuito per leggere questa sezione.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fonti
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/it/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Test Adattivo Computerizzato per la Diagnosi CognitivaPsicometria↔ compare
- Modello DINAPsicometria↔ compare
- Modello DINOPsicometria↔ compare
- Analisi delle Condizioni NecessariePsicometria↔ compare
- Metodologia dello Spazio delle RegolePsicometria↔ compare
Hai notato un problema in questa pagina? Segnalalo o proponi una correzione →