Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X
Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS), juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA), adalah teknik analitik yang sensitif terhadap permukaan yang mengukur energi kinetik fotoelektron yang dikeluarkan dari suatu material oleh sinar-X berenergi tinggi. Dikembangkan oleh Kai Siegbahn pada tahun 1967, XPS menentukan komposisi unsur, keadaan oksidasi kimia, dan ikatan kimia dalam jarak ~10 nanometer dari permukaan. Teknik ini sangat diperlukan dalam ilmu material untuk karakterisasi permukaan, studi korosi, analisis oksida, dan kimia antarmuka.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Peta metode
Lingkup metode terkait — pilih sebuah simpul untuk menjelajah.
Sumber
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/id/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Metode yang mana?
Letakkan metode ini berdampingan dengan kerabat terdekatnya dan baca secara bersisian — pustaka menata bukunya di atas meja; pilihan ada di tangan Anda.
- Spektroskopi Sinar-X Pendispersi EnergiIlmu Material↔ bandingkan
- Dekonvolusi RamanIlmu Material↔ bandingkan
- Difraksi Elektron Area TerpilihIlmu Material↔ bandingkan
Dirujuk oleh
Similar methods
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →