XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement adalah metode untuk mengekstrak informasi struktur kristal terperinci dari data difraksi serbuk dengan membandingkan pola difraksi yang diamati dan dihitung melalui penyempurnaan kuadrat terkecil. Dikembangkan oleh Hugo Rietveld pada tahun 1969, teknik ini memungkinkan penentuan posisi atom, okupansi, parameter termal, dan fraksi fasa secara langsung dari data serbuk tanpa memerlukan kristal tunggal. Ini adalah pendekatan standar dalam karakterisasi material untuk analisis struktural, identifikasi fasa, dan kuantifikasi.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Peta metode
Lingkup metode terkait — pilih sebuah simpul untuk menjelajah.
Sumber
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/id/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Metode yang mana?
Letakkan metode ini berdampingan dengan kerabat terdekatnya dan baca secara bersisian — pustaka menata bukunya di atas meja; pilihan ada di tangan Anda.
- CALPHADIlmu Material↔ bandingkan
- Difraksi Elektron Area TerpilihIlmu Material↔ bandingkan
- Spektroskopi Fotoelektron Sinar-XIlmu Material↔ bandingkan
Dirujuk oleh
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →