X-Ray Crystallography

Ketika sinar-X mengenai kristal, susunan atom yang teratur bertindak sebagai kisi difraksi, membengkokkan sinar ke arah tertentu yang ditentukan oleh hukum Bragg: nλ = 2d sin(θ), di mana d adalah jarak antar bidang atom dan θ adalah sudut datang. Dengan mengukur intensitas dan posisi berkas yang terdifraksi, kristalografer dapat merekonstruksi peta kerapatan elektron secara matematis, mengungkapkan lokasi atom dalam struktur kristal. Peta tiga dimensi ini memberikan informasi lengkap tentang panjang ikatan, sudut, dan susunan spasial.