EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) adalah teknik spektroskopi sinar-X berbasis sinkrotron yang mengukur struktur geometris dan elektronik lokal di sekitar atom tertentu dalam material apa pun, baik kristal maupun amorf. Ditemukan oleh Sayers, Stern, dan Lytle pada tahun 1971, EXAFS mengungkapkan jarak antaratom, jumlah koordinasi, dan ketidakberaturan dalam lingkungan atom dengan menganalisis osilasi dalam spektrum serapan sinar-X di atas tepi serapan.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/id/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Dirujuk oleh
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →