Röntgenfotoelektron-spektroszkópia
A röntgenfotoelektron-spektroszkópia (XPS), más néven kémiai analízis elektron-spektroszkópiája (ESCA), egy felületérzékeny analitikai technika, amely nagy energiájú röntgensugarakkal kibocsátott fotoelektronok mozgási energiáját méri. A Kai Siegbahn által 1967-ben kifejlesztett XPS elemi összetételt, kémiai oxidációs állapotokat és kémiai kötéseket határoz meg egy felület kb. 10 nanométeres mélységéig. Elengedhetetlen az anyagtudományban felületek jellemzésére, korróziós vizsgálatokra, oxidok elemzésére és interfészkémiára.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Módszertérkép
A rokon módszerek környezete — válasszon ki egy csomópontot a felfedezéshez.
Források
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/hu/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Melyik módszer?
Állítsa e módszert a hozzá legközelebb álló rokonai mellé, és olvassa őket egymás mellett — a könyvtár az asztalra teszi a könyveket; a választás az Öné.
- Energia-diszperzív röntgen-spektroszkópiaAnyagtudomány↔ összehasonlítás
- Raman-dekonvolúcióAnyagtudomány↔ összehasonlítás
- Szelektív területi elektrondiffrakcióAnyagtudomány↔ összehasonlítás
Hivatkozik rá
Similar methods
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →