EXAFS
A Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) egy szinkrotron alapú röntgen spektroszkópiai technika, amely bármely kristályos vagy amorf anyagban egy adott atom körüli lokális geometriai és elektronikus szerkezetet méri. A Sayers, Stern és Lytle által 1971-ben felfedezett EXAFS a röntgen abszorpciós spektrum abszorpciós él feletti oszcillációinak elemzésével tárja fel az atomközi távolságokat, koordinációs számokat és a rendezetlenséget az atomi környezetben.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Források
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/hu/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →