XRD Rietveld-finomítás
Az XRD Rietveld-finomítás egy olyan módszer, amely a pordiffrakciós adatokból részletes kristályszerkezeti információkat nyer ki azáltal, hogy a megfigyelt és számított diffrakciós mintázatokat legkisebb négyzetek módszerével történő finomítással hasonlítja össze. Ezt a Hugo Rietveld által 1969-ben kifejlesztett technikát alkalmazva meghatározhatók az atomi pozíciók, a betöltöttségi arányok, a termikus paraméterek és a fázisarányok közvetlenül a pordiffrakciós adatokból, egykristályok nélkül. Ez az anyagtudományban a szerkezeti analízis, a fázisazonosítás és a kvantifikáció standard megközelítése.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Módszertérkép
A rokon módszerek környezete — válasszon ki egy csomópontot a felfedezéshez.
Források
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/hu/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Melyik módszer?
Állítsa e módszert a hozzá legközelebb álló rokonai mellé, és olvassa őket egymás mellett — a könyvtár az asztalra teszi a könyveket; a választás az Öné.
- CALPHADAnyagtudomány↔ összehasonlítás
- Szelektív területi elektrondiffrakcióAnyagtudomány↔ összehasonlítás
- Röntgenfotoelektron-spektroszkópiaAnyagtudomány↔ összehasonlítás
Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →