Szelektív területi elektrondiffrakció
A szelektív területi elektrondiffrakció (SAED) a transzmissziós elektronmikroszkópiában (TEM) alkalmazott kristallegrafiai technika, amely mikrométeres vagy szubmikrométeres méretű kristályos tartományok elektrondiffrakciós mintázatait képes előállítani. Az elektronhullámok viselkedésének alapelveiből kiindulva, a TEM műszerekbe integrálva a 20. század közepére a SAED lehetővé tette a reciprok tér, a kristályszimmetria és a defektusszerkezetek közvetlen megfigyelését olyan térbeli feloldással, amely röntgendiffrakcióval nem érhető el. Alapvető fontosságú a lokális kristályszerkezet vizsgálatában, a fázisazonosításban és a nanoméretű anyagok jellemzésében.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Források
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/hu/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Atomierő-mikroszkópiaAnyagtudomány↔ compare
- Energia-diszperzív röntgen-spektroszkópiaAnyagtudomány↔ compare
- XRD Rietveld-finomításAnyagtudomány↔ compare
Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →