Automatsko generiranje testnih uzoraka
Automatsko generiranje testnih uzoraka (ATPG) je automatizirano stvaranje testnih vektora koji otkrivaju proizvodne nedostatke u digitalnim sklopovima. ATPG, čiji su pioniri bili Roth 1966., sustavno pronalazi ulaze koji čine greške tipa „stuck-at“ (zaglavljeno) vidljivima na izlazima, omogućujući sveobuhvatno otkrivanje grešaka. ATPG je ključan za proizvodnju poluvodiča: postizanje visoke pokrivenosti testiranjem osigurava isporuku samo ispravnih čipova i identificira probleme u proizvodnom procesu.
Pročitajte cijelu metodu
Prijavite se besplatnim računom kako biste pročitali ovaj odjeljak.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Izvori
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Kako citirati ovu stranicu
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/hr/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Logička sintezaElektrotehnika↔ compare
- Varijacije procesa Monte CarloElektrotehnika↔ compare
- Statistička analiza vremenaElektrotehnika↔ compare
Citirana u
Uočili ste pogrešku na ovoj stranici? Prijavite je ili predložite ispravak →