Im-Pesaran-Shin (IPS) test korijena
IPS test, koji su predstavili Im, Pesaran i Shin 2003. godine, test je korijena za panele dizajniran za heterogene panele gdje se autoregresivni koeficijent može razlikovati među poprečnim jedinicama. Prosječi individualne Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistike i konstruira standardiziranu statistiku s graničnom distribucijom standardnog normalnog, što ga čini jednim od najčešće primjenjivanih testova korijena prve generacije u primijenjenoj ekonometriji.
Pročitajte cijelu metodu
Prijavite se besplatnim računom kako biste pročitali ovaj odjeljak.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Izvori
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Kako citirati ovu stranicu
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/hr/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitungov test korijena jedinice za paneleEkonometrija↔ compare
- CIPS TestEkonometrija↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) test panelnog jediničnog korijenaEkonometrija↔ compare
Citirana u
Uočili ste pogrešku na ovoj stranici? Prijavite je ili predložite ispravak →