ספקטרוסקופיית פוטו-אלקטרונים בקרני רנטגן
ספקטרוסקופיית פוטו-אלקטרונים בקרני רנטגן (XPS), הידועה גם כספקטרוסקופיית אלקטרונים לניתוח כימי (ESCA), היא טכניקה אנליטית רגישה לפני השטח, המודדת את האנרגיות הקינטיות של פוטו-אלקטרונים הנפלטים מחומר על ידי קרני רנטגן באנרגיה גבוהה. ה-XPS, שפותחה על ידי קאי סיגבאן (Kai Siegbahn) בשנת 1967, קובעת הרכב יסודות, מצבי חמצון כימיים וקשרים כימיים בעומק של כ-10 ננומטר מפני השטח. היא חיונית במדע החומרים לאפיון פני שטח, חקר קורוזיה, ניתוח תחמוצות וכימיית ממשקים.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
מפת שיטות
סביבת השיטות הקרובות — בחרו צומת כדי לחקור.
מקורות
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/he/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
איזו שיטה?
הציבו שיטה זו לצד קרובותיה הקרובות וקראו אותן זו לצד זו — הספרייה מניחה את הספרים על השולחן; הבחירה בידיכם.
- ספקטרוסקופיית קרני רנטגן מפוזרות אנרגיהמדעי החומרים↔ השוואה
- פירוק רמן (Raman Deconvolution)מדעי החומרים↔ השוואה
- דיפרקציית אלקטרונים באזור נבחרמדעי החומרים↔ השוואה