מיקרוסקופיית כוח אטומי
מיקרוסקופיית כוח אטומי (AFM) היא טכניקת סריקת "שבב" (probe) המודדת טופוגרפיית פני שטח ונכונות מכניות בקנה מידה ננומטרי, באמצעות ניטור אינטראקציות בין קצה קנטילבר חד למשטח הדגימה. הומצאה על ידי גרד ביניג (Gerd Binnig) בשנת 1986 כהרחבה של מיקרוסקופיית מנהור סורקת, AFM אינה דורשת מוליכות חשמלית או פעולה בוואקום, מה שהופך אותה לישימה כמעט לכל חומר. היא מספקת מפות טופוגרפיות תלת-ממדיות ברזולוציה אנכית תת-ננומטרית ורזולוציה רוחבית המתקרבת לננומטרים, יחד עם מדידות סימולטניות של תכונות מכניות, חשמליות וכימיות.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/he/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- ספקטרוסקופיית קרני רנטגן מפוזרות אנרגיהמדעי החומרים↔ compare
- ננו-קדיחהמדעי החומרים↔ compare
- דיפרקציית אלקטרונים באזור נבחרמדעי החומרים↔ compare